Yalıtkan filmlerin yansıma spektrumu kullanılarak Gabor dalgacığı ile kırılma indisinin belirlenmesi

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.advisorÖzder, Serhat
dc.contributor.authorTiryaki, Erhan
dc.date.accessioned2025-01-26T20:50:55Z
dc.date.available2025-01-26T20:50:55Z
dc.date.issued2015
dc.departmentÇOMÜ, Enstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalı
dc.descriptionFen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalı
dc.description.abstractBu çalışmada yalıtkan bir film için teorik olarak elde edilen yansıma spektrumu analiz edilerek kırılma indisi dağılımı, sürekli dalgacık dönüşümü (SDD) yöntemi ile Gabor dalgacığı kullanılarak belirlenmiştir. Fourier dönüşümü (FD) ve SDD yöntemleri, zamana bağlı sinyallerin frekans bilgilerini elde etmek için kullanılan yöntemlerdir. Bu çalışmada FD ve SDD yöntemleri yalıtkan filmlerin kırılma indisini belirlemek için uyarlanmıştır. Önceki çalışmalarda, SDD yöntemi ince filmlerin geçirgenlik spektrumu analizinde kullanılmıştır. Bu çalışmada ise SDD yöntemi; yalıtkan filmlerin yansıma spektrumunun analizinde kullanılmıştır. Bu çalışma için ilk olarak yalıtkan filmlerin yansıma spektrumu teorik olarak elde edilmiştir. Sonrasında elde edilen teorik yansıma spektrumunun SDD ile analizi yapılarak, yalıtkan filmin kırılma indisi belirlenmiştir. Yapılan tez çalışmasının sonucu olarak yalıtkan filmlerin optik analizlerinde kullanılabilecek yeni bir yöntem geliştirilmiştir.
dc.description.abstractIn this work, the refractive index dispersion of a dielectric film whose reflectance spectrum is achieved as theoretically is determined by using continuous wavelet transform (CWT) with Gabor wavelet. Fourier transform (FT) and CWT are methods which are used for determining frequency informations of the time dependent signals. In this study, FT and CWT methods are adapted for determining refractive index of dielectric films. In previous works, CWT method was used for analysing the transmittance spectrum of thin films. In case of this study, CWT method is used for analysing reflectance spectrum of a dielectric film. Primarily, the theoretical reflectance spectrum of a dielectric film is derived, then the refractive index of dielectric film was determined from the analysing of theoretical reflectance spectrum of the dielectric film by using the CWT method. Consequently, a new method that can be used in optical analysis of dielectric films is improved.
dc.identifier.endpage48
dc.identifier.startpage1
dc.identifier.urihttps://tez.yok.gov.tr/UlusalTezMerkezi/TezGoster?key=Br_XTptK8CZ70f0JGX9xEgioXASh6l8QUev1yfclm2-ZfLbfrLMFribuE-EhBXgI
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12428/8113
dc.identifier.yoktezid424139
dc.language.isotr
dc.publisherÇanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi
dc.relation.publicationcategoryTez
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.snmzKA_Tez_20250125
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliği
dc.subjectPhysics and Physics Engineering
dc.titleYalıtkan filmlerin yansıma spektrumu kullanılarak Gabor dalgacığı ile kırılma indisinin belirlenmesi
dc.title.alternativeDetermination of the refractive index of dielectric films from the reflectance spectrum by using Gabor wavelet
dc.typeMaster Thesis

Dosyalar

Koleksiyon

Fen Bilimleri Enstitüsü Tez Koleksiyonu