Yalıtkan filmlerin yansıma spektrumu kullanılarak Gabor dalgacığı ile kırılma indisinin belirlenmesi
[ X ]
Tarih
2015
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
Bu çalışmada yalıtkan bir film için teorik olarak elde edilen yansıma spektrumu analiz edilerek kırılma indisi dağılımı, sürekli dalgacık dönüşümü (SDD) yöntemi ile Gabor dalgacığı kullanılarak belirlenmiştir. Fourier dönüşümü (FD) ve SDD yöntemleri, zamana bağlı sinyallerin frekans bilgilerini elde etmek için kullanılan yöntemlerdir. Bu çalışmada FD ve SDD yöntemleri yalıtkan filmlerin kırılma indisini belirlemek için uyarlanmıştır. Önceki çalışmalarda, SDD yöntemi ince filmlerin geçirgenlik spektrumu analizinde kullanılmıştır. Bu çalışmada ise SDD yöntemi; yalıtkan filmlerin yansıma spektrumunun analizinde kullanılmıştır. Bu çalışma için ilk olarak yalıtkan filmlerin yansıma spektrumu teorik olarak elde edilmiştir. Sonrasında elde edilen teorik yansıma spektrumunun SDD ile analizi yapılarak, yalıtkan filmin kırılma indisi belirlenmiştir. Yapılan tez çalışmasının sonucu olarak yalıtkan filmlerin optik analizlerinde kullanılabilecek yeni bir yöntem geliştirilmiştir.
In this work, the refractive index dispersion of a dielectric film whose reflectance spectrum is achieved as theoretically is determined by using continuous wavelet transform (CWT) with Gabor wavelet. Fourier transform (FT) and CWT are methods which are used for determining frequency informations of the time dependent signals. In this study, FT and CWT methods are adapted for determining refractive index of dielectric films. In previous works, CWT method was used for analysing the transmittance spectrum of thin films. In case of this study, CWT method is used for analysing reflectance spectrum of a dielectric film. Primarily, the theoretical reflectance spectrum of a dielectric film is derived, then the refractive index of dielectric film was determined from the analysing of theoretical reflectance spectrum of the dielectric film by using the CWT method. Consequently, a new method that can be used in optical analysis of dielectric films is improved.
In this work, the refractive index dispersion of a dielectric film whose reflectance spectrum is achieved as theoretically is determined by using continuous wavelet transform (CWT) with Gabor wavelet. Fourier transform (FT) and CWT are methods which are used for determining frequency informations of the time dependent signals. In this study, FT and CWT methods are adapted for determining refractive index of dielectric films. In previous works, CWT method was used for analysing the transmittance spectrum of thin films. In case of this study, CWT method is used for analysing reflectance spectrum of a dielectric film. Primarily, the theoretical reflectance spectrum of a dielectric film is derived, then the refractive index of dielectric film was determined from the analysing of theoretical reflectance spectrum of the dielectric film by using the CWT method. Consequently, a new method that can be used in optical analysis of dielectric films is improved.
Açıklama
Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalı
Anahtar Kelimeler
Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
