Kolay sentezlenen WO3 filminin mikroyapısal ve intrinsik kusur durumlarının incelenmesi

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.authorSarf, Fatma
dc.contributor.authorYakar, Emin
dc.contributor.authorGülen, Orhan
dc.date.accessioned2025-05-29T05:24:32Z
dc.date.available2025-05-29T05:24:32Z
dc.date.issued2022
dc.departmentÇanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi
dc.description.abstractBu çalışmada, WO3 filmleri, pH=2 koşulu altında kimyasal banyo ile In:SnO2 (ITO) substratlarına basitçe biriktirildi. Sentezlenen WO3 filminin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri x-ışını kırınımı (XRD), taramalı elektron mikroskobu (sem), atomik kuvvet mikroskobu (AFM), Uv-Vis, fotolüminesans (PL) ve Raman spektrofotometresi kullanılarak incelenmiştir. X-ışını desenlerinden, tungsten oksit kaplama monoklinik bir faz yapısı sergilemiştir. Yüzeyde nanorod/nano-diş formlarının nispi homojen parçacık dağılımı gözlenmiş ve ayrıca literatürdeki benzer çalışmalara kıyasla yüzey pürüzlülüğü daha azdır. Uv-Vis spektrumundan safsızlık zirvesi tespit edilmemiştir. WO3 filminin bant aralığı Tauc grafiğinden ölçülmüştür. Yüzey kusur emisyon zirveleri, özellikle oksijen boşlukları PL spektrumundan belirlenir. Yeşil emisyon, heterojen film büyüme sürecine atfedilir. W-O optik fonon modları Raman spektrumlarından belirlenir. Bu sonuçlardan, toplama-biriktirme mekanizması WO3 film büyüme sürecinden sorumludur
dc.description.abstractIn this study, WO3 films were simply deposited onto In:SnO2 (ITO) substrates by chemical bath under pH=2 condition. Structural, mophological and optical properties of the synthesized WO3 film were investigated by using x-ray diffraction (XRD), scanning electron microscope (SEM), atomic force microscope (AFM), Uv-Vis, photoluminescence (PL) and Raman spectrophotometer. From x-ray patterns, the tungsten oxide coating exhibits a monoclinic phase structure. Relative homogeneous particle distribution of nanorod/nano-tooth forms are observed on the surface and also surface roughness is less compared to similar studies in the literature. No impurity peak is detected from Uv-Vis spectrum. Band gap of the WO3 film is measured from Tauc plot. Surface defect emission peaks esepecially oxygen vacancies are determined from PL spectrum. Green emission is attributed to heterogeneous film growth process. W-O optical phonon modes are determined from Raman spectra. From these results, the aggregation–deposition mechanism is responsible to WO3 film growth process.
dc.identifier.doi10.30516/bilgesci.971220
dc.identifier.endpage19
dc.identifier.issn2651-401X
dc.identifier.issn2651-4028
dc.identifier.issue1
dc.identifier.startpage16
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.30516/bilgesci.971220
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12428/30873
dc.identifier.volume6
dc.language.isoen
dc.publisherKutbilge Akademisyenler Derneği
dc.relation.ispartofBilge International Journal of Science and Technology Research
dc.relation.publicationcategoryMakale - Ulusal Hakemli Dergi - Kurum Öğretim Elemanı
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.snmzKA_DergiPark_20250529
dc.subjectWO3 film
dc.subjectkimyasal banyolama
dc.subjectyapısal
dc.subjectoptik
dc.titleKolay sentezlenen WO3 filminin mikroyapısal ve intrinsik kusur durumlarının incelenmesi
dc.title.alternativeInvestigation of Microstructural and Intrinsic Defect States of Facile Synthesized WO3 Film
dc.typeResearch Article

Dosyalar

Koleksiyon

DergiPark