ANOVA F ve K testlerinin III. tip hata olasılıkları bakımından karşılaştırılması
[ X ]
Tarih
2004
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
Çift taraflı hipotez kontrollerinde, I. Tip ve II. Tip hata olasılıkları dışında, III. Tip hata ( $\\gamma$ ) olarak adlandırılan başka bir hata olasılığı da söz konusudur. III. Tip hata olasılığı, birbirleriyle karşılaştırılacak grup ortalamaları arasındaki farkın yönünün dikkate alınmamasından kaynaklanır. III. Tip hata olasılığı özellikle küçük hacimli örneklerle çalışılması durumunda testin gücünü etkilemektedir. Bu çalışmada, Anova F ve K testlerinin III. Tip hata olasılıkları bakımından karşılaştırılması amacıyla bir simülasyon çalışması yapılmıştır. Yapılan 100000 simülasyon denemesi sonunda her iki test bakımından gerçekleşen III. Tip hata olasılıklarının örnek genişliği ve ortalamalar arası farkın artmasına paralel olarak giderek küçüldüğü ve bunun Anova F testinde daha belirgin olduğu görülmüştür. III. Tip hata olasılığının grup sayısı ve varyanslarm heterojenlik derecesinden olumsuz etkilendiği ve bunun K testinde çok daha belirgin olduğu görülmüştür. Varyans oranları 1:3:5 olan üç $\\chi^2$ (3) dağılımlı popu.lasyonun olması durumunda F ve K testi bakımından gerçekleşen III. Tip hata olasılıklarının genel olarak %0.54-1.57 ve %0.92-4.37 arasında değiştiği görülmüştür. Varyans oranlarının 1:2:4:6 olması durumunda III. Tip hata olasılıkları %1.63-5.01've %2.15-14.6 olarak bulunmuştur. Aynı koşullarda dağılımların üstel (exp(0.5)) olması özellikle K-testi bakımından gerçekleşen III. Tip hata olasılıklarının belirgin bir şekilde artmasına neden olmuştur.
Açıklama
Anahtar Kelimeler
Matematik, İstatistik ve Olasılık
Kaynak
Tarım Bilimleri Dergisi
WoS Q Değeri
Scopus Q Değeri
Cilt
10
Sayı
2
